BCAM Scientific Seminar Novel probabilistic-based numerical tools for fast analyzing electrical properties in large-scale electronic circuits

Fecha: Mar, Jun 9 2015

Ubicación: ISCTE-Instituto Universitario de Lisboa, Departamento de Ciencias e Tecnologias de Informa̧cão,  and INESC-ID/IST, TU Lisbon, Portugal

Ponentes: Juan A. ACEBRÓN